識別卡彎曲扭轉測試儀核心功能與測試原理：

1?.動(dòng)態(tài)彎扭復合測試?

設備可同時(shí)對芯片卡施加?長(cháng)邊彎曲?（位移量20mm±1mm）和?短邊彎曲?（位移量10mm±1mm），并疊加?±15°雙向扭轉角度?（總角度30°），模擬卡片在動(dòng)態(tài)彎扭復合應力下的疲勞失效過(guò)程?12。

2?.多工位并行檢測?

配備15個(gè)獨立工位（長(cháng)邊5工位、短邊5工位、扭轉5工位），支持批量測試智能卡、RFID標簽等產(chǎn)品的機械耐久性?。

識別卡彎曲扭轉測試儀儀器介紹：

IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測試儀用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡等卡的彎曲和扭曲性能測試。

本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、銀行磁卡、醫療保險卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會(huì )員卡等系列磁卡的反復彎曲扭轉試驗，主要用于大專(zhuān)院校、科研單位、質(zhì)量檢測中心、企業(yè)單位品質(zhì)檢測部門(mén)、實(shí)驗室等磁卡的物理力學(xué)性能、工藝性能的測試和分板研究，深受廣大用戶(hù)青睞。

芯片卡動(dòng)態(tài)雙邊彎扭試驗機是測試時(shí)對IC卡施加?±15°?的交替扭轉角度（雙向總角度30°），并疊加長(cháng)邊?20mm?和短邊?10mm?的彎曲位移，模擬卡片的動(dòng)態(tài)彎扭應力環(huán)境?。支持?1~9999次?循環(huán)測試，檢測卡體疲勞壽命及芯片/磁條的耐久。用于驗證銀行卡、交通卡等?磁條/芯片卡?在頻繁彎折場(chǎng)景（如錢(qián)包擠壓）下的可靠性?。

IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭轉試驗機是一種專(zhuān)門(mén)用于測試IC卡（智能卡）在動(dòng)態(tài)彎曲和雙向扭轉條件下的耐久性和機械性能的設備。

衡翼IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗機常見(jiàn)標準：

?GB/T 17554.1-2006? 識別卡測試標準?

?ISO 10373? 國際智能卡機械特性測試規范?

ISO/IEC 7810：識別卡的物理特性標準。

識別卡彎曲扭轉測試儀技術(shù)指標：

型號：HY（IC）

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次                                                                          

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長(cháng)邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長(cháng)邊小位移量為2mm±0.50mm，

短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長(cháng)邊小位移量為1mm±0.50mm，

夾具安裝尺寸按照國家標準執行。

長(cháng)邊彎曲工位數：5工位

短邊彎曲工位數：5工位

雙向扭轉工位數：5工位

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W